一、SXJS-IV介质损耗测试仪概况

本仪器是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点，是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

二、SXJS-IV介质损耗测试仪技术指标

 1、环境：-5℃～40℃（液晶屏应避免长时间日照）

 2、相对湿度：30%～70%

 3、供电电源：电压：220V±10%，频率50±1Hz

 4、外形尺寸：长*宽*高=500mm*300mm*400mm

 5、重量：28kg

 6、输出功率：1.5KVA

 7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）

 8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法

 9、测量范围：内接试验电压：≤60000PF（10KV电压大于30000PF）

          外接试验电压：由外接试验变压器输出功率而定

10、基本测量误差：

      介质损耗（tgδ）：1%±0.04%

电容容量（Cx）：1%±1pF

三、SXJS-IV介质损耗测试仪结构

仪器为升压与测量一体化结构，输出电压2.5KV～10KV五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似，但比其方便。

产品别名：高压介质损耗测试仪、介质损耗测量仪、变频介质损耗测试仪、抗干扰介质损耗测试仪、介损测试仪、介质损耗检测仪、异频介质损耗测试仪、全自动介质损耗测试仪、SXJS-IV介损测试仪，介质损耗测试仪、SXJS-IV介损测试仪，介质损耗测试仪，介质损耗测试仪。

仪器测量线路:

仪器测量线路包括一标准回路（Cn）和一被试回路（Cx）。标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成，被试回路由被试品和测量线路组成。测量线路由取样电阻与前置放大器和A/D转换器组成。通过测量电路分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位等，再由单片机运用数字化实时采集方法，通过矢量运算便可得出试品的电容值和介质损耗正切值。

仪器内部已经采用了抗干扰措施，保证在外电场干扰下准确测量。

控制面板：打印机、键盘、显示和通讯中转。变频电源：采用SPWM开关电路产生大功率正弦波稳压输出。

升压变压器：将变频电源输出升压到测量电压，大无功输出2KVA/1分钟。

标准电容器：内Cn，测量基准。

Cn电流检测：用于检测内标准电容器电流，10μA～1A。输入电阻<2Ω。

Cx正接线电流检测：只用于正接线测量，10μA～1A。输入电阻<2Ω。Cx反接线电流检测：只用于反接线测量，10μA～1A。输入电阻<2Ω。

反接线数字隔离通讯：采用精密MPPM数字调制解调器，将反接线电流信号送到低压侧。隔离电压20KV。