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OT-8863型800度红外线测温仪技术参数
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OT-8863800红外线测温仪技术参数

一、OT-8863800红外线测温仪技术指标

辨率

0.1oC(0.1oF)

基本度

±1.5%

测温量程

50oC800oC(-58oF1472oF

光学比率

201

重复性

±0.5%

反应时间

少于150ms

光谱响应

8~14um

发射率

发射率从0.11.0可调

超量程提示

屏幕上显示“----”

极性显示

自动 (正极无显示); (-) 表明负极

二级管激光器

输出<1mw, 630~670nm Class 2(II)激光产品

存储温度

–10  60oC (14  140oF)

操作温度

0 50oC(32 122oF)

相对湿度

0%90%RH (操作), <80%RH (存储)

电源

9V 电池, NEDA 1604A  IEC 6LR61, 或其他同规格电池

重量

163g

尺寸

146×104×43mm

安全设计标准 

符合欧洲CE安全规范

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

800红外线测温仪,800红外线测温仪

二、红外系统:红外测温仪/红外线测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量,视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路,并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。

附:红外线测温仪原理

在自然界中,一切温度高于零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射能量的大小及其按波长的分布 —— 与它的表面温度有着十分密切的关系。因此,通过对物体自身辐射的红外能量的测量,便能准确地测定它的表面温度,这就是红外辐射测温所依据的客观基础。

光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量,视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路,并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。除此之外,还应考虑目标和测温仪所在的环境条件,如温度、气氛、污染和干扰等因素对性能指标的影响及修正方法。

 

非接触红外测温仪和传统的接触类测温仪有何不同

非接触红外测温仪

接触类测温仪

1.非接触测温对物体无影响

1.接触测温对被测物温度场有影响

2.检测物体表面温度

2.不适合测瞬态温度

3.反应速度快,可测运动中的物体和瞬态温度

3.不便于测运动中的物体

4.测量范围宽

4.测量范围不够宽,且耗材

5.测量精度高,分辨率小

5.不适合测量有毒、高压等危险场合

6.可对小面积测温

使用

7.可同时对点,线,面测温


  

8.可测温度,也可测相对温度


  

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